нареч. качеств.-обстоят.
Видом напоминая эллипс I - замкнутую овальную кривую, полученную сечением плоскости конуса или цилиндра.
нареч. качеств.-обстоят.
Видом напоминая эллипс I - замкнутую овальную кривую, полученную сечением плоскости конуса или цилиндра.
эллипсо́граф, эллипсо́графы, эллипсо́графа, эллипсо́графов, эллипсо́графу, эллипсо́графам, эллипсо́графом, эллипсо́графами, эллипсо́графе, эллипсо́графах
ЭЛЛИПСОГРАФ а, м. ellipsographe m. Механизм, каждая из точек одного звена которого описывает эллипс; применяется, например, в качестве чертежного инструмента для вычерчивания эллипсов. СИС 1954. - Лекс. Мак. 1908: эллипсогра/ф
ЭЛЛИПСО́ИД, эллипсоида, муж. (мат.). Яйцевидное шарообразное тело, получающееся при вращении эллипса вокруг одной из своих осей.
ЭЛЛИПСО́ИД -а; м. [от греч. elleipsis - выпадение, опущение и eidos - вид] Матем. Поверхность, образуемая вращением эллипса (1.Э.; 1 зн.) вокруг одной из своих осей.
◁ Эллипсо́идный, -ая, -ое.
* * *
эллипсо́ид - замкнутая поверхность (2-го порядка). Эллипсоид можно получить из поверхности шара, если шар сжать (растянуть) в произвольных отношениях в трёх взаимно перпендикулярных направлениях (рис.). Если эллипс вращать вокруг одной из его осей, то описываемая им поверхность будет эллипсоидом вращения.

* * *
ЭЛЛИПСОИД - ЭЛЛИПСО́ИД, замкнутая поверхность (2-го порядка). Эллипсоид можно получить из поверхности шара, если шар сжать (растянуть) в произвольных отношениях в трех взаимно перпендикулярных направлениях. Если эллипс вращать вокруг одной из его осей, то описываемая им поверхность будет эллипсоидом вращения.
-а, м. мат.
Поверхность, образуемая вращением эллипса (в 1 знач.) вокруг одной из своих осей.
[От греч. ’έλλειψις - эллипс и ε’ι̃δος - вид]

Эллипсоид.
ЭЛЛИПСОИД, поверхность, которую можно получить из сферы, если сферу сжать (растянуть) в произвольных отношениях в трех взаимно перпендикулярных направлениях. Если эллипс вращать вокруг одной из его осей, то описываемая им поверхность будет эллипсоид вращения; такой эллипсоид (так называемый земной эллипсоид) наилучшим образом представляет фигуру Земли.

Эллипсоид. Разрез.
эллипсо́ид, эллипсо́иды, эллипсо́ида, эллипсо́идов, эллипсо́иду, эллипсо́идам, эллипсо́идом, эллипсо́идами, эллипсо́иде, эллипсо́идах
ЭЛЛИПСОИД а, м. ellipsoïde m. спец. Поверхность, образуемая вращением эллипса вокруг одной из своих осей. БАС-1. Глобусы в виде шара, груши, элипсоида. Кукольник Примеч. // К. 1851 1 556. Гало. Это - эллипсоид диаметром более 600 тысяч световых лет, окружающий галактический диск. Вращается гало очень медленно. ЗС 2003 5 82. Эллипсоидальный ая, ое. Бомбы .. вылетая из кратера в нагретом или вязком состоянии, падали на склон и катились вниз, принимая иногда шарообразную, а чаще эллипсоидальную форму..размер бом колебался от куриного яйца до экземпляров эллипсоидальной формы, имеющих от 2 м по большой оси и 1, 8 м по малой. Извержение Авачинского вулкана. // Природа 1926 9-10 39. - Лекс. Ян. 1806: эллипсоид; САН 1847: эллипсои/д; СИС 1937: эллипсо/ид; Толль 1866: эллипсоидальное зеркало; БАС-2: эллипсоида/льные координаты.
ЭЛЛИПСОИД (греч., от elleipsis - эллипсис, и eidos - сходство). Геометрическое тело, происходящее от обращения полуэллипса вокруг одной из своих осей.
эллипсоида́льный, эллипсоида́льная, эллипсоида́льное, эллипсоида́льные, эллипсоида́льного, эллипсоида́льной, эллипсоида́льных, эллипсоида́льному, эллипсоида́льным, эллипсоида́льную, эллипсоида́льною, эллипсоида́льными, эллипсоида́льном, эллипсоида́лен, эллипсоида́льна, эллипсоида́льно, эллипсоида́льны, эллипсоида́льнее, поэллипсоида́льнее, эллипсоида́льней, поэллипсоида́льней
эллипсо́идный, эллипсо́идная, эллипсо́идное, эллипсо́идные, эллипсо́идного, эллипсо́идной, эллипсо́идных, эллипсо́идному, эллипсо́идным, эллипсо́идную, эллипсо́идною, эллипсо́идными, эллипсо́идном, эллипсо́иден, эллипсо́идна, эллипсо́идно, эллипсо́идны, эллипсо́иднее, поэллипсо́иднее, эллипсо́идней, поэллипсо́идней
ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ - ЭЛЛИПСОМЕТРИ́Я, совокупность методов изучения поверхностей жидких и твердых тел по состоянию поляризации светового пучка, отраженного этой поверхностью и преломленного на ней. Традиционно эллипсометрия используется для измерения толщины пленок, в частности эпитаксиальных в полупроводниковой практике. Для этого необходимо, чтобы отражение света от слоистой структуры сопровождалось интерференционным эффектом. Это происходит, когда падающее излучение отражается не только от границы структура-воздух, но и от границы слоев., т. е. верхний слой должен быть прозрачным в используемом интервале длин волн, а оптические постоянные верхнего слоя и подложки в данном спектральном диапазоне различны.
В эллипсометрии используется оптическая часть электромагнитного спектра широкого диапазона от далекой инфракрасной ИК-области (от 300мкм) до далекой ультрафиолетовой области (0,03 мкм), включая видимый диапазон. В каждом конкретном случае измерения обычно проводятся на одной длине волны. В качестве первичного излучения обычно используется высокопараллельное квазимонохроматическое излучение (чаще лазерное), характеризующееся узкой спектральной линией. При отражении поляризованной электромагнитной волны на границе раздела двух сред, имеющих различные оптические характеристики, меняется амплитуда и фаза электромагнитной волны.
Эллипсометрия может использоваться для измерения толщин различных поверхностных слоев с оптическими свойствами, отличными от свойств идеально отражающей подложки, например, слоев естественного окисла на поверхности кремния, нарушенных слоев после финишных процессов механической обработки, а также для определения показателя преломления различных диэлектрических покрытий.
Непосредственно на эллипсометрах измеряют, ставя в определенное положение поляризатор и анализатор ( в положение интерференционного экстремума - минимума отраженного луча), некоторые угловые величины и ( их значения получают прямо в процессе измерения) и по ним с помощью специальных номограмм или путем рассчетов определяют или толщины, или параметры верхних слоев с отличными от подложки оптическими свойствами.
Эллипсометрические измерения в видимом диапазоне длин волн света используются для оценки некоторых типов гетероструктур, например, структуры кремний-на-сапфире, поликристаллический кремний-диэлектрик-кремний, эпитаксиальные структуры феррит-гранатов, для определения параметров некоторых диэлектрических пленок.
Оптическая эллипсометрия является неразрушающим бесконтактным высокочувствительным методом, не требующим специальной подготовки образцов. Разрешающая способность метода по толщине - 1 нм.
- Высокочувствительный и точный поляризационно-оптический метод исследования поверхностей и границ раздела различных сред, основанный на изучении изменения состояния поляризации света после взаимодействия его с поверхностью границ раздела этих сред.
нареч. качеств.-обстоят.
Формой напоминая эллипс I - замкнутую кривую, полученную сечением плоскости конуса или цилиндра.