ДЕБАЯ - ШЕРРЕРА метод - метод рентгеновского структурного анализа поликристаллических материалов. В рентгеновских камерах или рентгеновских дифрактометрах осуществляется дифракция рентгеновского излучения на исследуемом образце. Анализируя дифракционную картину, устанавливают атомную структуру образца. Предложен П. Дебаем и немецким физиком П. Шеррером в 1916.
дебая - шеррера метод
Энциклопедический словарь
ДЕБАЯ - ШЕРРЕРА МЕТОД - ДЕБА́Я - ШЕ́РРЕРА МЕ́ТОД, метод рентгеновского структурного анализа (см. РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ) поликристаллических материалов. В рентгеновских камерах или рентгеновских дифрактометрах осуществляется дифракция рентгеновского излучения на исследуемом образце. Анализируя дифракционную картину, устанавливают атомную структуру образца. Предложен П. Дебаем (см. ДЕБАЙ Петер) и немецким физиком П. Шеррером в 1916.
Полезные сервисы
дебая температура
Энциклопедический словарь
Деба́я температу́ра - характеристическая температура ТД твёрдого тела, определяемая соотношением kTД = hνпр, где νпр - наибольшая частота упругих колебаний кристаллической решётки, k - постоянная Больцмана, h - постоянная Планка; константа ТД приближённо указывает границу, ниже которой сказываются квантовые эффекты.
* * *
ДЕБАЯ ТЕМПЕРАТУРА - ДЕБА́Я ТЕМПЕРАТУ́РА, характеристическая температура Тд твердого тела, определяемая соотношением kТд=hnпр, где nпр - наибольшая частота упругих колебаний кристаллической решетки, k - Больцмана постоянная, h - Планка постоянная; константа Тд приближенно указывает границу, ниже которой сказываются квантовые эффекты.
Большой энциклопедический словарь
ДЕБАЯ температура - характеристическая температура Тд твердого тела, определяемая соотношением kТд=h?пр, где ?пр - наибольшая частота упругих колебаний кристаллической решетки, k - Больцмана постоянная, h - Планка постоянная; константа Тд приближенно указывает границу, ниже которой сказываются квантовые эффекты.
Полезные сервисы
дебая-шеррера метод
Энциклопедический словарь
Деба́я-Ше́ррера ме́тод - Деба́я-Ше́ррера ме́тод, метод рентгеновского структурного анализа поликристаллических материалов. В рентгеновских камерах или рентгеновских дифрактометрах осуществляется дифракция рентгеновского излучения на исследуемом образце. Анализируя дифракционную картину, устанавливают атомную структуру образца. Предложен П. Дебаем и немецким физиком П. Шеррером в 1916.